ページトップへ戻る

Volume 07, No.3 Page 203

5. 告知板/ANNOUNCEMENTS

第5回XAFS討論会のご案内
5-th Symposium on XAFS

pdfDownload PDF (10 KB)


 X線吸収微細構造(XAFS)は、物質の構造解析と電子状態の研究手法として定着し、その研究分野の拡張と共にユーザー層の広がりでも目覚ましいものがある。また近年、高輝度光源の利用による新たな試みと展開も期待され、基礎研究と共に材料科学の応用分野からも新たなユーザーがXAFSを利用するようになっている。XAFS討論会は、XAFSの理論、実験、データ解析、応用に関する研究者が一堂に会し、研究発表を行うと共に議論する事を目的として1998年から毎年開催されている。奮ってご参加下さいます様ご案内申し上げます。


1.会 期: 2002年8月1日(木)~3日(土)


2.会 場: 広島大学 学士会館2階(レセプションホール)

      〒739-8526 東広島市鏡山1-3-1


3.主 催: 日本XAFS研究会

 共 催: 広島大学 放射光科学研究センター(HiSOR)

 協 賛: 日本放射光学会、日本化学会、日本分析化学会、日本物理学会、応用物理学会、触媒学会、日本結晶学会


4.プログラム:

 特別講演および一般講演から成るシングルセッション。

 特別講演:

「共鳴X線散乱の機構」 五十嵐潤一氏(JASRI/SPring-8)

「放射光核共鳴散乱研究の展開」 瀬戸 誠氏(京都大学原子炉)

「光電子顕微鏡を用いた軟X線磁気円二色性顕微分光」今田 真氏(大阪大学基礎工学部)


 最終日午後、広島大学放射光科学研究センター(HiSOR)の見学会を計画している。


5.参加費(講演要旨集1冊を含む):

 日本XAFS研究会会員 1,000円、一般 3,000円、学生 1,000円


6.講演申込:

 フォーマットをhttp://xafs5.sci.hiroshima-u.ac.jp/よりダウンロードのうえe-mail、FAX、または郵送にて下記までお申し込み下さい。

 締切は、6月7日(金)<必着>


7.問合せ先: 〒739-8526 東広島市鏡山1-3-1

       広島大学大学院理学研究科 物理科学科 圓山 裕

       e-mail:xafs5@sci.hiroshima-u.ac.jp

       TEL:0824-24-7386 FAX:0824-24-0717


 詳細は、http://xafs5.sci.hiroshima-u.ac.jp/ をご覧下さい。



Print ISSN 1341-9668
[ - Vol.15 No.4(2010)]
Online ISSN 2187-4794