Volume 07, No.3 Page 203
5. 告知板／ANNOUNCEMENTS
第5回XAFS討論会のご案内
5-th Symposium on XAFS
Ｘ線吸収微細構造（XAFS）は、物質の構造解析と電子状態の研究手法として定着し、その研究分野の拡張と共にユーザー層の広がりでも目覚ましいものがある。また近年、高輝度光源の利用による新たな試みと展開も期待され、基礎研究と共に材料科学の応用分野からも新たなユーザーがXAFSを利用するようになっている。XAFS討論会は、XAFSの理論、実験、データ解析、応用に関する研究者が一堂に会し、研究発表を行うと共に議論する事を目的として1998年から毎年開催されている。奮ってご参加下さいます様ご案内申し上げます。
1．会 期： 2002年8月1日（木）～3日（土）
2．会 場： 広島大学 学士会館2階（レセプションホール）
〒739-8526 東広島市鏡山1-3-1
3．主 催： 日本XAFS研究会
共 催： 広島大学 放射光科学研究センター（HiSOR）
協 賛： 日本放射光学会、日本化学会、日本分析化学会、日本物理学会、応用物理学会、触媒学会、日本結晶学会
4．プログラム：
特別講演および一般講演から成るシングルセッション。
特別講演：
「共鳴Ｘ線散乱の機構」 五十嵐潤一氏（JASRI/SPring-8）
「放射光核共鳴散乱研究の展開」 瀬戸 誠氏（京都大学原子炉）
「光電子顕微鏡を用いた軟X線磁気円二色性顕微分光」今田 真氏（大阪大学基礎工学部）
最終日午後、広島大学放射光科学研究センター（HiSOR）の見学会を計画している。
5．参加費（講演要旨集１冊を含む）：
日本XAFS研究会会員 1,000円、一般 3,000円、学生 1,000円
6．講演申込：
フォーマットをhttp://xafs5.sci.hiroshima-u.ac.jp/よりダウンロードのうえe-mail、FAX、または郵送にて下記までお申し込み下さい。
締切は、6月7日（金）＜必着＞
7．問合せ先： 〒739-8526 東広島市鏡山1-3-1
広島大学大学院理学研究科 物理科学科 圓山 裕
e-mail：xafs5@sci.hiroshima-u.ac.jp
TEL：0824－24－7386 FAX：0824－24－0717
詳細は、http://xafs5.sci.hiroshima-u.ac.jp/ をご覧下さい。
