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Volume 05, No.3 Pages 164 - 180

2. SPring-8の現状/PRESENT STATUS OF SPring-8

SPring-8共用ビームライン利用研究課題の募集について
Call for the Beam Time Application for the Public Beamlines at SPring-8

放射光利用研究促進機構 (財)高輝度光科学研究センター Organization for the Promotion of Synchrotron Radiation Research・JASRI

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 (財)高輝度光科学研究センターでは、SPring-8の共用ビームラインを利用して行う研究課題を募集しています。以下の要領でご応募下さい。

 なお、今回から3年以内の長期にわたってSPring-8を利用する特定利用制度が開始されることになりました。この課題についても公募いたしますが、以下の一般課題の場合とは、公募締切日、申請書類等が異なりますので、本誌163ページの「特定利用研究課題の募集について」をご覧ください。


1.利用期間等

 平成12年10月5日〜平成12年12月20日の予定

・共用ビームタイム 120シフト程度の予定(1シフトは8時間)

2.募集の締め切り

 平成12年6月17日(土)消印有効

 なお、持参および時間指定宅配便は6月19日(月)午前10時利用業務部必着分のみ受理します。

 申請書に電子メールアドレスが記入されている申請者には6月26日迄に申請書の受理通知を電子メールで送ります。6月26日を過ぎても通知がこない場合は利用業務部へお問い合わせ願います。なお、電子メールを使用されない申請者の方は、お手数ですが電話で利用業務部へお問い合わせ下さい。


3.募集の対象となるビームライン

■共用ビームライン(BL01B1〜BL43IRは120シフト程度、BL46XUおよびBL47XUは45シフト程度を使用できます。)


No. ビームライン名 研 究 分 野

  検出器,回折計,試料周辺機器,光源(試料位置でのエネルギー範囲等)

1 BL01B1:XAFS X線吸収微細構造

  Lytle-type検出器,単素子SSD,19素子SSD,イオンチャンバー電気炉,マッフル炉,クライオスタット(10K-300K),偏向電磁石(3.8〜117keV)

2 BL02B1:結晶構造解析 結晶構造解析,散漫散乱,粉末結晶回折

  7軸回折計,ワイセンベルグカメラ,微小結晶用真空カメラクライオスタット(10K-300K),電気炉(300K-1,000K),ダイヤモンドアンビル高圧装置(温度可変10K-300K),偏向電磁石(5〜90keV)

3 BL02B2:粉末結晶構造解析
(名称が変更されました)
粉末結晶構造解析

  イメージングプレート装着デバイ・シェラーカメラクライオスタット(10K-300K),高温装置(300K-1,000K),偏向電磁石(5〜38keV)

4 BL04B1:高温構造物性 高圧地球科学,高温物性研究

  2段高圧システム(1,500トンプレス:40GPa,2,000K)高温高圧ガス加圧型測定装置(ヘリウムガス加圧:2,000kg/cm2,1,650K),偏向電磁石(白色10〜150keV)

5 BL04B2:高エネルギーX線回折
(名称が変更されました)
高圧物性研究,高温高圧ガス小角散乱,融体・無定形物質散乱,精密構造解析

  高エネルギーイメージングプレート回折計,2軸回折計,ワイセンベルグカメラ,高圧ガス容器偏向電磁石(モノクロメータ37.8, 61.7keV,集光光学系あり)

6 BL08W:高エネルギー非弾性散乱 磁気コンプトン散乱,高分解能コンプトン散乱,高エネルギー蛍光X線分析

  Ge半導体検出器(多素子,セグメント),分光結晶型検出器超伝導磁石(±3T),クライオスタット(10K-300K),楕円偏光ウイグラー(100〜120keV, 300keV)

7 BL09XU:核共鳴散乱 メスバウアー散乱,非弾性散乱,表面・界面構造解析

  APD検出器,NaI検出器,PIN検出器4軸回折計,2軸ゴニオメーター,高分解能ゴニオメータークライオスタット(3.8K-500K),精密架台真空封止アンジュレータ(9〜80keV)

8 BL10XU:高圧構造物性 超高圧構造物性,高輝度XAFS

  超高圧ダイヤモンドアンビル装置(300GPa),高圧用クライオスタット(10K-300K),高温加熱システム(3,000K),イオンチャンバー,XAFS用クライオスタット(15K-300K),Ge100素子検出器(開発中),真空封止アンジュレータ(15〜35keV;高圧ステーション,6〜35keV;XAFSステーション)

9 BL20B2:医学・イメージングI
(名称が変更されました)
アンジオグラフィー,トモグラフィー,屈折イメージング,トポグラフィー

  中尺ビームライン(215m)大ビームサイズ(最大値300mm(H)×15mm(V) at 200m ; 医学利用棟,60mm(H)×5mm(V) ; 実験ホールハッチ)偏向電磁石(6〜80keV)

10 BL25SU:軟X線固体分光 高分解能光電子分光,光電子回折・ホログラフィー,磁気円二色性

  光電子分光装置,磁気円二色性測定装置,二次元球形エネルギー分析器,ヘリカルアンジュレータ(0.5〜1.5keV,エネルギー分解能E/△E>10,000)

11 BL27SU:軟X線光化学 高分解能分子分光,光イオン化機構,内殻励起機構,薄膜創製,機能材料の微細加工,反応機構解析

  軟X線光化学実験装置(リフレクトロン型TOF質量分析装置,気相用光電子分光装置),軟X線CVD実験装置,8の字アンジュレータ(0.3(0.15)〜2.7keV,エネルギー分解能E/△E>10,000)

12 BL28B2:白色X線回折
(名称が変更されました)
白色X線トポグラフィー

  各種検出器付き回折計,赤外加熱システム(1,800K)偏向電磁石(白色 3keV〜)

13 BL39XU:生体分析 磁気散乱,磁気円二色性,微小領域元素分析,極微量分析

  磁気散乱用回折計,クライオスタット(15K-300K),電磁石(2T)微小領域蛍光X線分析装置,斜入射蛍光X線分析装置,真空封止アンジュレータ(5〜37keV )

14 BL40XU:高フラックス 各種時分割実験,時分割小角散乱など

  高フラックス(試料位置で0.2mm2内に1015光子/秒),エネルギー分解能(約2%,結晶単色器なし,収束鏡あり)ヘリカルアンジュレータ(8〜17keV)

15 BL40B2:構造生物学Ⅱ
(名称が変更されました)
生体高分子結晶構造解析,汎用小角散乱

  生体高分子結晶構造解析装置(イメージングプレートおよびCCD検出器)汎用小角散乱装置(イメージングプレートおよびCCD検出器)多波長異常回折法用XAFSシステム, 構造解析用ワークステーション,液体窒素冷却装置(85K-375K),偏向電磁石(7〜18keV)

16 BL41XU:構造生物学Ⅰ
(名称が変更されました)
生体高分子結晶構造解析

  生体高分子結晶構造解析装置(イメージングプレートおよびCCD検出器),多波長異常回折法用XAFSシステム, 構造解析用ワークステーション, 液体窒素冷却装置(85K-375K),真空封止アンジュレータ(6〜38keV)

17 BL43IR:赤外物性 顕微分光,表面科学,吸収・反射分光,磁気光学

  顕微分光装置(マッピングステージ,フロー式クライオスタット,低温DAC,高温DAC),表面科学実験装置(IRAS, HREELS, LEED),吸収反射分光装置(放射光同期ピコ秒レーザシステム),磁気光学顕微分光装置(14T超電導電磁石)

18 BL46XU:R&D(2) 磁気回折など

  多軸回折計,真空封止ハイブリッドアンジュレータ(12〜24keV,1次光で供給可能)

19 BL47XU:R&D(1) 光学系開発など

  精密架台など,真空封止アンジュレータ(6〜54keV,液体窒素冷却結晶単色器あり)


■原研/理研ビームライン[成果非専有課題(成果公開)のみ。全ビームタイムの20%即ち今回は30シフト程度を共同利用に使用できます。]


No. ビームライン名 研 究 分 野
20 BL11XU:原研 材料科学Ⅱ 高圧物性研究,核共鳴散乱ステーションを共同利用に提供

  超高圧発生プレス,精密ゴニオメーター,真空封止アンジュレータ(7〜70keV)

21 BL14B1:原研 材料科学㈵ 高圧物性研究,表面・界面科学,結晶構造研究

  超高圧発生プレス,κ型多軸回折計,偏向電磁石(単色(5〜90keV)/白色(5〜150keV))

22 BL23SU:原研 重元素科学 軟X線分光,表面化学,放射線生物

  光電子分光装置,磁気円二色性装置,ESR装置,表面化学反応分析装置,可変偏光アンジュレータ(0.5〜1.5keV)

23 BL44B2:理研 構造生物学Ⅱ 時分割ラウエ結晶回折,結晶構造解析,XAFS

  XAFSステーション(クライオスタット,10K-350K)結晶構造解析装置(CCD検出器,クライオスタット80K-375K)構造解析用ワークステーション,パルスNd:YAGレーザ,Dyeレーザ,偏向電磁石(白色 6〜30keV )

24 BL45XU:理研 構造生物学Ⅰ (小角散乱ステーションのみ共同利用に提供)

  イメージングプレート,イメージインテンシファイヤー型CCD検出器,高分解能小角散乱装置,真空封止型垂直アンジュレータ(12.4keV)


 ご応募の前にビームライン・ステーションの整備状況をSPring-8のWWWホームページ(以下の4参照)で確認して下さい。


4.応募方法

 SPring-8利用研究課題申請書(2000年版)を記入要領に従い作成し、以下の項目5に示す提出方法に従い項目6の提出先までお送り下さい。

 今回申請書は以下の点を考慮して変更になっております。

(1)XAFS分科で審査を受ける課題について

 技術的に測定できるか判断できるように、測定試料については組成を必ず記入してください。(申請書項目8)また、XAFS測定に使用したい放射光のエネルギーまたは波長を記述してください。(申請書項目12)。
(2)生命科学分科で審査を受ける課題について

 関連するテーマで他の申請を行っている場合はその課題との関係を記入してください(申請書項目11)。

 SPring-8利用研究課題申請書(成果非専有課題(蛋白質結晶構造解析専用)用、成果非専有課題(散乱・回折、XAFS、分光、実験技術、その他)用は、以下の、SPring-8のWWWホームページに書き込みのできるPDF形式ファイルで供給しています。予めPDF形式ファイルの書き込みに対応しているバージョンの「Acrobat Reader」をインストールしてから、申請書をダウンロードしてください。また、本誌の172ページからの申請書のコピーも利用いただけます。

[利用研究課題募集案内のホームページアドレス]

 http://www.spring8.or.jp/JAPANESE/user_info/(日本語)

 http://www.spring8.or.jp/ENGLISH/user_info/(英語)


 成果専有課題(有料)用の申請書および記入要領は下記6の利用業務部にご請求下さい。


5.申請書の提出方法

 作成された申請書A4版の原本1部、原本の1、2頁を表面に、また3、4頁を裏面としてA4版1枚に左綴じで読めるように縮小両面コピーした副本15部(成果専有課題の場合は5部)を下記の提出先に郵送して下さい。(蛋白質結晶構造解析の課題で原本が5枚になった場合は5頁目を同様に縮小コピーし副本の2枚目として下さい。)


6.申請書提出・問い合わせ先

 〒679-5198 兵庫県佐用郡三日月町光都1-1-1

 (財)高輝度光科学研究センター 利用業務部

 「共用ビームライン利用研究課題募集係」

  牧田知子または平野有紀

 TEL:0791-58-0961 FAX:0791-58-0965

 e-mail:sp8jasri@spring8.or.jp

 成果専有課題を郵送される場合は封筒に「専有」と朱書して下さい。


7.審査結果の通知

 平成12年8月中旬の予定です。なお、採択の通知を受けた課題の実験責任者は2週間以内に利用研究課題実行者名簿をインターネットで登録していただくことになります。また、そのときに新規のユーザーはユーザー登録が必要になります。


8.ビーム使用料金

 成果非専有課題で申請される課題は、成果を公開された場合[註]ビーム使用料は無料です。成果専有(成果を非公開)課題で申請される課題はビーム使用料を徴収します。料金は1シフト(8時間)あたり472,000円です。成果専有課題で時期指定利用の場合はビーム使用料金は5割増になります。なお、成果専有課題を申請される場合は、別途料金支払い等に関する契約を結んでいただく必要がありますので、利用業務部にお問い合わせ下さい。

 [註]課題終了後60日以内に利用報告書を提出していただくことで、成果が公開されたとみなします。


9.備考

 次回利用期間(平成13年1月〜6月ただし1月は冬期停止期間)分の募集は平成12年10月中旬に締め切る予定です。


(参考)インターネットによる申請書の取り出しおよび書き込み方法について
1.利用研究課題募集案内のホームページURL

 http://www.spring8.or.jp/JAPANESE/user_info/(日本語)

 http://www.spring8.or.jp/ENGLISH/user_info/(英語)

 ブラウザはNetscapeの場合バージョン3.0以上をお使い下さい。


2.供給している申請書

 書き込みのできるPDF形式ファイル

 なお、申請書2ページ目以降はフォントの大きさを2種類用意しています。記入量に応じて選択してください。PDF形式ファイルを読むためには予め、以下の3の項目に示したソフトのいずれかをインストールしておく必要があります。


3.ソフトウエアに応じた利用方法

(1)PDF形式ファイルを表示と印刷するだけの古いバージョンの「Acrobat Reader」がインストールされている場合申請書をプリントアウトして、従来の方法で作成してください。


(2)書き込みもできる最新の「Acrobat Reader 」がインストールされている場合(インストールされていない方は、アドビ社のホームページから無料でインストールできます。上記SPring-8のホームページ中にリンクしています。)書き込み後プリントアウトできますが、書き込んだファイルを保存する事ができません。書き込み内容を他のソフトウエア(たとえば、Word)で作成し、コピー&ペーストしてください。


(3)「Acrobat Exchange 3.0aJ」をインストールされている場合(「Acrobat Exchange 3.0aJ」は「Acrobat Reader 3.0aJ パッケージ」を購入されますとその中にはいっています。)PDF形式ファイルを読み出して、直接書き込み、保存できます。


4.図の張り付けについて

 PDFファイル上ソフトでは図を張り付けられませんので、以下のどちらかの方法を選択してください。

 (1)図は別の用紙に作成し物理的に張り付ける。

 (2)記入内容を適当なソフト(たとえば、文章はWordで作り、図をペーストする)で申請書のフォーマットに合わせて作り、予めプリントアウトしたブランクの申請書に印刷する。



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[ - Vol.15 No.4(2010)]
Online ISSN 2187-4794