Volume 17, No.1 Page 65
5. SPring-8 通信／SPring-8 COMMUNICATIONS
2008A期実施開始の長期利用課題の事後評価について
Post-Project Review of Long-term Proposals Starting in 2008A
2008A期に採択された長期利用課題について、2010B期に３年間の実施期間を終了しましたので、平成23年11月にSPring-8利用研究課題審査委員会 長期利用分科会による事後評価が行われました。
事後評価は、長期利用分科会が実験責任者に対しヒアリングを行った後、評価を行うという形式で実施し、利用研究課題審査委員会で評価結果を取りまとめました。以下に対象となる長期利用課題２課題のうち、評価を受けた１課題の評価結果を示します。研究内容については本誌「最近の研究から」に実験責任者による紹介記事を掲載しています。
なお、2008A期に採択された長期利用課題２課題のうちもう１課題については、平成23年５月に事後評価を実施し、「SPring-8利用者情報」Vol.16 No.3（2011年８月号）の224ページに掲載済みです。
| 課題名 | SPIN polarized high resolution HArd Xray Photo Emission Spectroscopy SPINHAXPES |
| 実験責任者（所属） | Claudia Felser (Johannes Gutenberg-University, Mainz) |
| 採択時の課題番号 | 2008A0017 |
| 利用ビームライン | BL47XU |
| 配分総シフト | 138 shifts |
〔評価〕
The purpose of this proposal was to newly develop a spin-polarized hard-x-ray photoemission spectroscopy (SPINHAXPES) technique. The main targets of studies are materials concerning to spintronics devices. Since most of the samples are multilayer systems, bulk sensitive technique is essential to investigate magnetic and electronic structures for substrate layers. In this proposal, the group members developed SPINHAXPES and magnetic linear- and circular-dichroism (MLD & MCD) in HAXPES techniques. They obtained excellent results on MLD & MCD-HAXPES studies. Some important information on magnetic layers covered by non-magnetic thin films was successfully observed. Some of the activities have been published in 10 peer-reviewed journals. Although the current achievement of SPINHAXPES so far has been limited to detect the spin-polarized signals from Fe 2p core levels because of the weak intensity of valence electrons, further progress of the study can be expected by improvement of the lens system and by applying the new multi-channel spin filtering detection system. All the reviewers judged that the achievements of the proposal are “Excellent”. The proposal to submit the long-term project for the next step from 2012 period is strongly recommended. It is also expected that the system will become user-friendly and widely used for material science.
