研究手法分類表
|
大分類
|
小分類名称
|
キーワードの一例
|
| X線回折 | 単結晶回折 | 多波長異常分散法、X線結晶構造解析 |
| 粉末結晶回折 | リートベルト解析、最大エントロピー法、エネルギー分散法 | |
| 表面・界面構造回折 | CTR、微小角回折法、表界回折、その場X線回折 | |
| 定在波法 | 表面吸着原子構造解析、界面構造解析 | |
| 反射率法 | 異常分散法、深さ電子密度解析 | |
| 歪み解析 | マイクロビームX線回折 | |
| その他 | 逆格子イメージング法、時間分解回折法、ドメインサイズ解析 | |
| X線散乱 | 小角散乱 | 微小角散乱、GISAXA、SAXS/WAXS同時測定 |
| 中角散乱 | 非晶質・液体散乱 | |
| 散漫散乱 | ||
| その他 | スペックル | |
| X線磁気散乱 | 磁気散乱 | 磁気回折、磁気共鳴散乱 |
| ATS散乱 | ||
| その他 | ||
| X線非弾性散乱 | 非弾性散乱 | 高分解能非弾性散乱 |
| 核共鳴散乱 | 核励起 | |
| コンプトン散乱 | コンプトン磁気散乱 | |
| 発光分光 | 共鳴X線非弾性散乱、寿命幅フリーXANES、軟X線発光分光 | |
| その他 | ||
| X線・ 軟X線吸収分光 |
XAFS | XANES、DAFS、マッピング |
| 蛍光X線分析 | 元素・質量分析、化学状態分析、マッピング | |
| 磁気吸収 | 磁気円二色性、LS分離、マッピング | |
| 軟X線分光 | ||
| 赤外分光 | 赤外顕微鏡、赤外顕微分光、低温・高圧・高磁場下赤外分光 | |
| その他 | ||
| 光電子分光 | 光電子分光 | 硬X線光電子分光、共鳴光電子分光、軟X線角度分解光電子分光、 軟X線光電子分光、リアルタイム光電子分光 |
| 光電子顕微鏡(PEEM) | 局所位置選択XAFS、局所領域光電子分光、磁気状態イメージング、 電子状態イメージング |
|
| 光電子回折・光電子ホログラフィー | 二次元光電子分光、オージェ電子回折、立体原子顕微鏡 | |
| コインシデンス分光 | 電子・イオン同時計測運動量画像分光、TOF質量分析、 光電子-光イオン同時計測分光 |
|
| その他 | ||
| X線イメージング | X線トポグラフィー | 白色、平面波、マイクロビームトポグラフィー |
| X線CT | マイクロCT、位相CT、屈折コントラストCT | |
| X線ホログラフィー | フーリエ変換ホログラフィー、ホログラフィー顕微鏡 | |
| X線顕微鏡 | 位相差顕微鏡、分光顕微法、走査型顕微鏡 | |
| その他 | ||
| X線光学 | 回折・散乱・吸収 | 測定方法、基礎理論 |
| 共鳴散乱 | 異常散乱・回折法原理 | |
| 位相光学 | 干渉計、コヒーレンス | |
| 量子光学 | 非線形光学、強度ゆらぎ | |
| その他 | ||
| 特殊環境実験 | 高圧、高温、強磁場 | 大容量高圧プレス、エネルギー分散型X線回折、X線ラジオグラフィー |
| その他 | ||
| その他 | その他 |

