タイトル・発表先
9957
2007.01.30 10:57
10.1103/PhysRevA.74.013816
Excess Coincidences of Reflected and Refracted X Rays from a Synchrotron-Radiation Beamline
原著論文/博士論文/査読付プロシーディングス
Physical Review A
74 1 2006 013816
著者情報
 
主著者 Ikonen Erkki Helsinki University of Technology and Centre for Metrology and Accreditation
共著者 1 0000387 Yabashi Makina SPring-8/JASRI
共著者 2 0000179 Ishikawa Tetsuya SPring-8/RIKEN
関連課題情報
None BL19LXU SPring-8 Optics