タイトル・発表先
9013
2007.01.30 10:57
10.1063/1.1855572
Crystallographic Analysis of CoPtCr-SiO2 Perpendicular Recording Media with High Anisotropy using Synchrotron Radiation X-ray Diffraction
原著論文/博士論文/査読付プロシーディングス
Journal of Applied Physics
97 10 2005 10R510
著者情報
 
主著者 0009034 Kubo Toshikazu Fuji Electric Advanced Technology Co., Ltd.
共著者 1 0008177 Kuboki Yoshiyuki Fuji Electric Advanced Technology Co., Ltd.
共著者 2 0004130 Ohsawa Michio Fuji Electric Advanced Technology Co., Ltd.
共著者 3 0006449 Tanuma Ryohei Fuji Electric Advanced Technology Co., Ltd.
共著者 4 0014481 Saito Akira Fuji Electric Advanced Technology Co., Ltd.
共著者 5 Oikawa Tadaaki Fuji Electric Advanced Technology Co., Ltd.
共著者 6 Uwazumi Hiroyuki Fuji Elevtric Storage Device Co., Ltd.
共著者 7 0009017 Shimatsu Takehito Tohoku University
関連課題情報
C04A3110 BL16XU 大沢 通夫