タイトル・発表先
研究成果番号
8104
登録日時
2007.01.30 10:56
DOI
10.1143/JJAP.44.4211
オープンアクセスジャーナルURL
英語タイトル
New Topographic Method of Detecting Microdefects Using Weak-Beam Topography with White X-Rays
日本語タイトル
発表形式
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）
誌名
Japanese Journal of Applied Physics
巻
44
号
6A
発行年
2005
頁
4211-4212
発表先（口頭／ポスター発表）
講演会名
開催日
開催都市
研究分野
研究手法
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0001794
Kajiwara
Kentarou
SPring-8/JASRI
共著者 1
0004124
Kimura
Shigeru
SPring-8/JASRI
共著者 2
0001769
Chikaura
Yoshinori
Kyushu Institute of Technology
関連課題情報
課題番号
2000A0102
ビームライン
BL28B2
実験責任者
木村 滋
課題番号
2003A0622
ビームライン
BL28B2
実験責任者
梶原 堅太郎
課題番号
2003B0747
ビームライン
BL28B2
実験責任者
梶原 堅太郎