タイトル・発表先
研究成果番号
7923
登録日時
2007.01.30 10:56
DOI
10.1107/S090904950501472X
オープンアクセスジャーナルURL
英語タイトル
Spherically Bent Analyzers for Resonant Inelastic X-ray Scattering with Intrinsic Resolution Below 200meV
日本語タイトル
発表形式
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）
誌名
Journal of Synchrotron Radiation
巻
12
号
4
発行年
2005
頁
473-478
発表先（口頭／ポスター発表）
講演会名
開催日
開催都市
研究分野
研究手法
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0014059
Collart
Emilie
Universite Paris 6
共著者 1
0014060
Shukla
Abhay
Universite Paris 6
共著者 2
Gélébart
Frédéric
Universite Paris 6
共著者 3
Morand
Marc
Universite Paris 6
共著者 4
Malgrange
Cécile
CNRS
共著者 5
Madouri
Ali
CNRS
共著者 6
Nathalie
Bardou
CNRS
共著者 7
Pelouard
Jean-Luc
CNRS
関連課題情報
課題番号
C03B1507
ビームライン
BL12XU
実験責任者
Shukla Abhay