タイトル・発表先
7923
2007.01.30 10:56
10.1107/S090904950501472X
Spherically Bent Analyzers for Resonant Inelastic X-ray Scattering with Intrinsic Resolution Below 200meV
原著論文/博士論文/査読付プロシーディングス
Journal of Synchrotron Radiation
12 4 2005 473-478
著者情報
 
主著者 0014059 Collart Emilie Universite Paris 6
共著者 1 0014060 Shukla Abhay Universite Paris 6
共著者 2 Gélébart Frédéric Universite Paris 6
共著者 3 Morand Marc Universite Paris 6
共著者 4 Malgrange Cécile CNRS
共著者 5 Madouri Ali CNRS
共著者 6 Nathalie Bardou CNRS
共著者 7 Pelouard Jean-Luc CNRS
関連課題情報
C03B1507 BL12XU Shukla Abhay