タイトル・発表先
研究成果番号
7655
登録日時
2007.01.30 10:56
DOI
10.1016/j.apsusc.2004.10.145
オープンアクセスジャーナルURL
英語タイトル
In situ X-ray Diffraction Study of Crystallization Process of GeSbTe Thin Films during Heat Treatment
日本語タイトル
発表形式
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）
誌名
Applied Surface Science
巻
244
号
1-4
発行年
2005
頁
281-284
発表先（口頭／ポスター発表）
講演会名
開催日
開催都市
研究分野
研究手法
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0005046
Kato
Naohiko
Toyota Central R&D Laboratories, Inc.
共著者 1
0004119
Konomi
Ichiro
Toyota Central R&D Laboratories, Inc.
共著者 2
0004989
Seno
Yoshiki
Toyota Central R&D Laboratories, Inc.
共著者 3
Motohiro
Tomoyoshi
Toyota Central R&D Laboratories, Inc.
関連課題情報
課題番号
C00A0326
ビームライン
BL16XU
実験責任者
妹尾 与志木