タイトル・発表先
720
2007.01.30 10:55
10.1143/JJAP.40.L646
Visibility Measurement with an X-Ray Interferometer Using a Coincidence Technique
原著論文/博士論文/査読付プロシーディングス
Japanese Journal of Applied Physics
40 6B 2001 L646-L647
著者情報
 
主著者 0000387 Yabashi Makina JASRI
共著者 1 0000342 Tamasaku Kenji RIKEN
共著者 2 0000179 Ishikawa Tetsuya RIKEN
関連課題情報
None BL29XU SPring-8 Optics