タイトル・発表先
702
2007.01.30 10:55
10.1063/1.1291229
Focusing Properties of Tantalum Phase Zone Plate and Its Application to Hard X-Ray Microscope
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
X-Ray Microscopy: Proceedings of the Sixth International Conference (AIP Conference Proceedings 507)
CP507 2000 668-671
International Conference on X-ray Microscopy (XRM)
1999.08.02-08.06 Berkeley, USA
著者情報
 
主著者 0001230 Kagoshima Yasushi Himeji Institute of Technology
共著者 1 0003438 Takai Kengo Himeji Institute of Technology
共著者 2 0004208 Ibuki Takashi Himeji Institute of Technology
共著者 3 0001341 Yokoyama Kazushi Himeji Institute of Technology
共著者 4 0003437 Takeda Shingo Himeji Institute of Technology
共著者 5 0004194 Urakawa Masafumi Himeji Institute of Technology
共著者 6 0001231 Tsusaka Yoshiyuki Himeji Institute of Technology
共著者 7 0001232 Matsui Junji Himeji Institute of Technology
関連課題情報
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