タイトル・発表先
研究成果番号
6861
登録日時
2007.01.30 10:56
DOI
10.1016/j.sab.2004.03.022
オープンアクセスジャーナルURL
英語タイトル
Submicron-Resolved X-ray Topography using Asymmetric-Reflection Magnifiers
日本語タイトル
発表形式
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）
誌名
Spectrochimica Acta Part B
巻
59
号
10-11
発行年
2004
頁
1549-1555
発表先（口頭／ポスター発表）
講演会名
開催日
開催都市
研究分野
研究手法
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0006449
Tanuma
Ryohei
Fuji Electric Advanced Technology Co., Ltd.
共著者 1
0004130
Ohsawa
Michio
Fuji Electric Advanced Technology Co., Ltd.
関連課題情報
課題番号
C02B3009
ビームライン
BL16XU
実験責任者
田沼 良平
課題番号
C02A3000
ビームライン
BL16XU
実験責任者
大沢 通夫