タイトル・発表先
6619
2007.01.30 10:56
10.1002/sia.1496
Real-time Observation of Surface Morphology at Nanometer Scale with using X-ray Specular Reflection
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
Surface and Interface Analysis
35 1 2003 72-75
著者情報
 
主著者 0003394 Kawamura Tomoaki NTT Basic Research Laboratories
共著者 1 0003410 Watanabe Yoshio NTT Basic Research Laboratories
共著者 2 0004806 Fujikawa Seiji Himeji Institute of Technology
共著者 3 0006357 Bhunia Satyaban The University of Electro-Communications
共著者 4 0006841 Uchida Kazuo The University of Electro-Communications
共著者 5 0001232 Matsui Junji Himeji Institute of Technology
共著者 6 0001230 Kagoshima Yasushi Himeji Institute of Technology
共著者 7 0001231 Tsusaka Yoshiyuki Himeji Institute of Technology
関連課題情報
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