タイトル・発表先
研究成果番号
6404
登録日時
2007.01.30 10:56
DOI
10.1107/S0909049504012609
オープンアクセスジャーナルURL
英語タイトル
Determination of the Three-Dimensional Structure of Dislocations in Silicon by Synchrotron White X-ray Topography Combined with a Topo-Tomographic Technique
日本語タイトル
発表形式
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）
誌名
Journal of Synchrotron Radiation
巻
11
号
4
発行年
2004
頁
304-308
発表先（口頭／ポスター発表）
講演会名
開催日
開催都市
研究分野
研究手法
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0003776
Kawado
Seiji
Rigaku Corporation
共著者 1
0007513
Taishi
Toshinori
Shinshu University
共著者 2
0001768
Iida
Satoshi
Toyama University
共著者 3
0001776
Suzuki
Yoshifumi
Kyushu Institute of Technology
共著者 4
0001769
Chikaura
Yoshinori
Kyushu Institute of Technology
共著者 5
0001794
Kajiwara
Kentarou
SPring-8/JASRI
関連課題情報
課題番号
2003A0129
ビームライン
BL28B2
実験責任者
川戸 清爾