タイトル・発表先
研究成果番号
6332
登録日時
2007.01.30 10:56
DOI
10.1021/ac025720y
オープンアクセスジャーナルURL
英語タイトル
Wavelength-Dispersive Total-Reflection X-ray Fluorescence with an Efficient Johansson Spectrometer and an Undulator X-ray Source: Detection of 10
-16
g-level Trace Metals
日本語タイトル
発表形式
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）
誌名
Analytical Chemistry
巻
74
号
17
発行年
2002
頁
4532-4535
発表先（口頭／ポスター発表）
講演会名
開催日
開催都市
研究分野
研究手法
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0001274
Sakurai
Kenji
National Institute for Materials Science
共著者 1
0004038
Eba
Hiromi
National Institute for Materials Science
共著者 2
0001222
Inoue
Katsuaki
JASRI
共著者 3
0001129
Yagi
Naoto
JASRI
関連課題情報
課題番号
2000B0302
ビームライン
BL40XU
実験責任者
桜井 健次
課題番号
2001A0347
ビームライン
BL40XU
実験責任者
桜井 健次