タイトル・発表先
研究成果番号
6265
登録日時
2007.01.30 10:56
DOI
10.1143/JJAP.43.1561
オープンアクセスジャーナルURL
英語タイトル
Metal/Semiconductor Interfaces Studied by Transmitted X-ray Reflectivity
日本語タイトル
発表形式
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）
誌名
Japanese Journal of Applied Physics
巻
43
号
4A
発行年
2004
頁
1561-1565
発表先（口頭／ポスター発表）
講演会名
開催日
開催都市
研究分野
研究手法
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0003142
Takahashi
Isao
Kwansei Gakuin University
共著者 1
0008200
Inoue
Kouji
Kwansei Gakuin University
共著者 2
0007338
Kitahara
Amane
Kwansei Gakuin University
共著者 3
0003408
Terauchi
Hikaru
Kwansei Gakuin University
共著者 4
0003369
Sakata
Osami
SPring-8/JASRI
関連課題情報
課題番号
2002A0049
ビームライン
BL13XU
実験責任者
高橋 功
課題番号
2002B0206
ビームライン
BL13XU
実験責任者
高橋 功