タイトル・発表先
5999
2007.01.30 10:56
10.1143/JJAP.43.L421
High-Spatial-Resolution Phase Measurement by Micro-Interferometry Using a Hard X-Ray Imaging Microscope
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
Japanese Journal of Applied Physics
43 3B 2004 L421-L423
著者情報
 
主著者 0007226 Koyama Takahisa Himeji Institute of Technology
共著者 1 0001230 Kagoshima Yasushi Himeji Institute of Technology
共著者 2 0007197 Wada Izumi Himeji Institute of Technology
共著者 3 0008619 Saikubo Akihiko Himeji Institute of Technology
共著者 4 0008617 Shimose Kenichi Himeji Institute of Technology
共著者 5 0008616 Hayashi Kenji Himeji Institute of Technology
共著者 6 0001231 Tsusaka Yoshiyuki Himeji Institute of Technology
共著者 7 0001232 Matsui Junji Himeji Institute of Technology
関連課題情報
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