タイトル・発表先
5989
2007.01.30 10:56
10.1143/JJAP.43.1644
Detection Limits of Trace Elements for Wavelength Dispersive Total X-Ray Fluorescence under High Flux Synchrotron Radiation
原著論文/博士論文/査読付プロシーディングス
Japanese Journal of Applied Physics
43 4A 2004 1644-1648
著者情報
 
主著者 0004141 Awaji Naoki Fujitsu Laboratories, Ltd.
共著者 1 0003152 Takemura Momoko Toshiba Corporarion
共著者 2 0004142 Ozaki Shinji Matsushita Technoresearch, Inc.
共著者 3 0003239 Iihara Junji Sumitomo Electric Industries, Ltd.
共著者 4 0001222 Inoue Katsuaki SPring-8/JASRI
共著者 5 0001129 Yagi Naoto SPring-8/JASRI
共著者 6 0004072 Komiya Satoshi SPring-8/JASRI
共著者 7 0003409 Nomura Kenji Fujitsu Laboratories, Ltd.
共著者 8 0003157 Doi Shuichi Fujitsu Laboratories, Ltd.
共著者 9 0006760 Kamimuta Yuichi Toshiba Corporation
共著者 10 0003817 Takahashi Mamoru Toshiba Corporation
共著者 11 0001285 Takahashi Masao Osaka University
共著者 12 0005665 Miyatake Kenichiro Sumitomo Electric Industries, Ltd.
共著者 13 0006679 Yamazaki Noboru Sumitomo Electric Industries, Ltd.
関連課題情報
2001A0342 BL40XU 淡路 直樹