タイトル・発表先
5422
2007.01.30 10:56
10.1063/1.1586970
Application of Phase-Retrieval X-Ray Diffractometry to Carbon Doped SiGe(C)/Si(C) Superlattice Structures
原著論文/博士論文/査読付プロシーディングス
Journal of Applied Physics
94 2 2003 1007-1012
著者情報
 
主著者 0013606 Siu Karen K.-W. Monash University
共著者 1 0001876 Nikulin Andrei Monash University
共著者 2 Zaumsei Peter Innovations for High Perfomance Microelectronics
共著者 3 0000314 Yamazaki Hiroshi SPring-8/JASRI
共著者 4 0000179 Ishikawa Tetsuya RIKEN/SPring-8
関連課題情報
None BL29XU SPring-8 Instrumentation & Technique