タイトル・発表先
研究成果番号
5096
登録日時
2007.01.30 10:56
DOI
10.1016/S0022-0248(01)01931-5
オープンアクセスジャーナルURL
英語タイトル
Microscopic Strain Analysis of Semiconductor Crystals Using a Synchrotron X-Ray Microbeam
日本語タイトル
発表形式
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）
誌名
Journal of Crystal Growth
巻
237-239
号
発行年
2002
頁
317-323
発表先（口頭／ポスター発表）
講演会名
13th International Conference on Crystal Growth (ICCG-13)
開催日
2001.07.31-08.04
開催都市
Kyoto, Japan
研究分野
研究手法
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0001232
Matsui
Junji
Himeji Institute of Technology
共著者 1
0001231
Tsusaka
Yoshiyuki
Himeji Institute of Technology
共著者 2
0001341
Yokoyama
Kazushi
Himeji Institute of Technology
共著者 3
0003437
Takeda
Shingo
Himeji Institute of Technology
共著者 4
0004194
Urakawa
Masafumi
Himeji Institute of Technology
共著者 5
0001230
Kagoshima
Yasushi
Himeji Institute of Technology
共著者 6
0004124
Kimura
Shigeru
NEC Corporation
関連課題情報
課題番号
C00B5041
ビームライン
BL24XU
実験責任者
松井 純爾
課題番号
C99B0541
ビームライン
BL24XU
実験責任者
松井 純爾