タイトル・発表先
研究成果番号
5079
登録日時
2007.01.30 10:56
DOI
10.1016/S0169-4332(03)00961-9
オープンアクセスジャーナルURL
英語タイトル
Structural Analysis of NiO Ultra-Thin Films Epitaxially Grown on Ultra-Smooth Sapphire Substrates by Synchrotron X-Ray Diffraction Measurements
日本語タイトル
発表形式
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）
誌名
Applied Surface Science
巻
221
号
1-4
発行年
2004
頁
450-454
発表先（口頭／ポスター発表）
講演会名
開催日
開催都市
研究分野
研究手法
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0003369
Sakata
Osami
JASRI
共著者 1
0007678
Yi
Min-Su
JASRI
共著者 2
0009370
Matsuda
Akifumi
Tokyo Institute of Technology
共著者 3
0008960
Liu
Jin
Tokyo Institute of Technology
共著者 4
0013137
Sato
Shuhei
Tokyo Institute of Technology
共著者 5
0008959
Akiba
Shusaku
Tokyo Institute of Technology
共著者 6
0008958
Sasaki
Atsushi
Tokyo Institute of Technology
共著者 7
0008956
Yoshimoto
Mamoru
Tokyo Institute of Technology
関連課題情報
課題番号
2002B0197
ビームライン
BL13XU
実験責任者
坂田 修身
課題番号
2002B0736
ビームライン
BL13XU
実験責任者
吉本 護
課題番号
2003A0126
ビームライン
BL13XU
実験責任者
吉本 護