タイトル・発表先
研究成果番号
4986
登録日時
2007.01.30 10:56
DOI
10.1016/S0169-4332(03)00479-3
オープンアクセスジャーナルURL
英語タイトル
Coexistence of Passive and Active Oxidation for O
2
/Si(001) System Observed by SiO Mass Spectrometry and Synchrotron Radiation Photoemission Spectroscopy
日本語タイトル
発表形式
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）
誌名
Applied Surface Science
巻
216
号
1-4
発行年
2003
頁
8-14
発表先（口頭／ポスター発表）
講演会名
4th International Symposium on Control of Semiconductor Interfaces
開催日
2002.10.21-10.25
開催都市
Karuizawa, Japan
研究分野
研究手法
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0000390
Teraoka
Yuden
JAERI
共著者 1
0007459
Moritani
Kousuke
JAERI, Osaka University
共著者 2
0001305
Yoshigoe
Akitaka
JAERI
関連課題情報
課題番号
None
ビームライン
BL23SU
利用施設
SPring-8
サイト内分類項目
Experiment