タイトル・発表先
4766
2007.01.30 10:56
10.1088/0953-8984/14/44/330
Charge Density Analysis of SiO2 under Pressures over 50GPa Using a New Diamond Anvil Cell for Single-Crystal Structure Analysis
原著論文/博士論文/査読付プロシーディングス
Journal of Physics: Condensed Matter
14 44 2002 10545-10551
International Conference on High Pressure Science and Technology (AIRAPT)
2001.07.23−07.27 Beijing, China
著者情報
 
主著者 0003066 Yamanaka Takamitsu Osaka University
共著者 1 0004351 Fukuda Tomoo Osaka University
共著者 2 0005508 Komatsu Yutaka Osaka University
共著者 3 Sumiya Hitoshi Sumitomo Electric Industries, Ltd
関連課題情報
2002B0013 BL02B1 山中 高光