タイトル・発表先
研究成果番号
41430
登録日時
2021.03.23 08:22
DOI
10.1063/5.0033165
オープンアクセスジャーナルURL
https://doi.org/10.1063/5.0033165
英語タイトル
Impact of Oxygen on Band Structure at the Ni/GaN Interface Revealed by Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy
日本語タイトル
発表形式
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）
誌名
Applied Physics Letters
巻
118
号
12
発行年
2021
頁
121603
発表先（口頭／ポスター発表）
講演会名
開催日
開催都市
研究分野
[A80] 産業利用
研究手法
[M50] 光電子分光
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0047737
Mizushima
Hirotaka
Sony Corporation
共著者 1
0004074
Arai
Ryouji
Sony Corporation
共著者 2
0032067
Inaba
Yuta
Sony Corporation
共著者 3
Yamashita
Shunsuke
Sony Corporation
共著者 4
0034915
Yamaguchi
Yudai
Sony Corporation
共著者 5
Konitani
Yuya
Sony Corporation
共著者 6
0003790
Kudo
Yoshihiro
Sony Corporation
共著者 7
Hamaguchi
Tatsushi
Sony Corporation
共著者 8
Koda
Rintaro
Sony Corporation
共著者 9
Yamashita
Katsunori
Sony Corporation
共著者 10
0036527
Ohkubo
Tadakatsu
National Institute for Materials Science
共著者 11
0036525
Hono
Kazuhiro
National Institute for Materials Science
共著者 12
0007602
Tomiya
Shigetaka
Sony Corporation
関連課題情報
課題番号
2017A5040
ビームライン
BL16XU
実験責任者
新井 龍志
課題番号
2017B5040
ビームライン
BL16XU
実験責任者
新井 龍志
課題番号
2018A5040
ビームライン
BL16XU
実験責任者
新井 龍志
課題番号
2018B5040
ビームライン
BL16XU
実験責任者
新井 龍志
課題番号
2019A5040
ビームライン
BL16XU
実験責任者
新井 龍志
課題番号
2019B5040
ビームライン
BL16XU
実験責任者
新井 龍志