タイトル・発表先
研究成果番号
3986
登録日時
2007.01.30 10:56
DOI
オープンアクセスジャーナルURL
英語タイトル
Photoelectron Spectroscopy Study of Chemical and Electronic Structures at Ultrathin-Gate-Dielectrics/Silicon Interface
日本語タイトル
極薄ゲート絶縁膜／シリコン界面における化学結合状態と電子状態に関する研究
発表形式
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）
誌名
Doctoral Thesis (Musashi Institute of Technology)
巻
号
発行年
2003
頁
発表先（口頭／ポスター発表）
講演会名
開催日
開催都市
研究分野
研究手法
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0008044
Takahashi
Kensuke
Musashi Institute of Technology
関連課題情報
課題番号
2002B0477
ビームライン
BL27SU
実験責任者
服部 健雄