タイトル・発表先
研究成果番号
37053
登録日時
2018.10.31 11:00
DOI
10.1149/08607.0411ecst
オープンアクセスジャーナルURL
英語タイトル
High-Sn Concentration MOCVD-Grown Strained GeSn Thin Films Evaluated Using HAXPES and XRD Base on Synchrotron Technique
日本語タイトル
発表形式
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）
誌名
ECS Transactions
巻
86
号
7
発行年
2018
頁
411-418
発表先（口頭／ポスター発表）
講演会名
開催日
開催都市
研究分野
[A80] 産業利用
研究手法
[M50] 光電子分光
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0019880
Usuda
Koji
Toshiba Memory Corporation
共著者 1
0004423
Yoshiki
Masahiko
Toshiba Corporation
共著者 2
0035178
Suda
Kohei
Meiji University
共著者 3
0015928
Ogura
Atsushi
Meiji University
共著者 4
0035715
Tomita
Mitsuhiro
Toshiba Memory Corporation
関連課題情報
課題番号
2016A5060
ビームライン
BL16XU
実験責任者
臼田 宏治
課題番号
2016B5060
ビームライン
BL16XU
実験責任者
臼田 宏治
課題番号
2017A5060
ビームライン
BL16XU
実験責任者
臼田 宏治
課題番号
2017B5060
ビームライン
BL16XU
実験責任者
吉木 昌彦