タイトル・発表先
35434
2018.02.09 13:21
Correlation between Electronic Structure of SiN/AlGaN Interface and Gate Leakage Current
SiN/AlGaN界面の電子構造とゲートリーク電流の関係
原著論文/博士論文/査読付プロシーディングス
電気材料技術雑誌 (Journal of the Society of Electrical Materials Engineering)
26 1 2017 5-12
[A30] 物質科学・材料科学
[M50] 光電子分光
著者情報
 
主著者 Kurahashi Kenichiro Mitsubishi Electric Corporation
共著者 1 0036659 Tanaka Masayuki Mitsubishi Electric Corporation
共著者 2 0034687 Kiyoi Akira Mitsubishi Electric Corporation
共著者 3 0028927 Motoya Tsukasa Mitsubishi Electric Corporation
共著者 4 Nanjo Takuma Mitsubishi Electric Corporation
共著者 5 Yagyu Eiji Mitsubishi Electric Corporation
関連課題情報
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