タイトル・発表先
研究成果番号
35331
登録日時
2018.01.30 11:43
DOI
10.7567/APEX.11.031001
オープンアクセスジャーナルURL
英語タイトル
Synchrotron Radiation Microbeam X-ray Diffraction for Nondestructive Assessments of Local Structural Properties of Faceted InGaN/GaN Quantum Wells
日本語タイトル
発表形式
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）
誌名
Applied Physics Express
巻
11
号
3
発行年
2018
頁
031001
発表先（口頭／ポスター発表）
講演会名
開催日
開催都市
研究分野
[A80] 産業利用
研究手法
[M10] X線回折
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0019656
Sakaki
Atsushi
Nichia Corporation
共著者 1
Funato
Mitsuru
Kyoto University
共著者 2
0003394
Kawamura
Tomoaki
Nichia Corporation
共著者 3
0020266
Araki
Jun
Nichia Corporation
共著者 4
Kawakami
Yoichi
Kyoto University
関連課題情報
課題番号
2007B1738
ビームライン
BL13XU
実験責任者
榊 篤史
課題番号
2008A1679
ビームライン
BL13XU
実験責任者
榊 篤史
課題番号
2008B1795
ビームライン
BL13XU
実験責任者
榊 篤史
課題番号
2013A5080
ビームライン
BL16XU
実験責任者
榊 篤史
課題番号
2013B5080
ビームライン
BL16XU
実験責任者
榊 篤史