タイトル・発表先
34505
2017.09.15 20:34
10.1380/jsssj.38.378
Approach to Highly Sensitive XAFS by Means of Bent Crystal Laue Analyzers
ラウエ型湾曲結晶分光器による高感度XAFS
原著論文/博士論文/査読付プロシーディングス
表面科学 (Journal of the Surface Science Society of Japan)
38 8 2017 378-383
[A40] 化学
[M40] X線・軟X線吸収分光
著者情報
 
主著者 0033107 Wakisaka Yuki Hokkaido University
共著者 1 Iwasaki Yuya Hokkaido University
共著者 2 0025177 Uehara Hiromitsu Hokkaido University
共著者 3 0039630 Mukai Shingo Hokkaido University
共著者 4 0038236 Kido Daiki Hokkaido University
共著者 5 0009141 Takakusagi Satoru Hokkaido University
共著者 6 0015862 Uemura Yohei National Institutes of Natural Sciences
共著者 7 0032551 Wada Takahiro Tokyo Medical and Dental University
共著者 8 0039569 Yuan Qiuyi Hokkaido University
共著者 9 0024411 Sekizawa Oki University of Electro-Communications
共著者 10 0000182 Uruga Tomoya University of Electro-Communications, SPring-8/JASRI
共著者 11 0006070 Iwasawa Yasuhiro University of Electro-Communications
共著者 12 0005040 Asakura Kiyotaka Hokkaido University
関連課題情報
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