タイトル・発表先
32246
2016.10.12 10:00
10.1063/1.4952944
Scanning Three-Dimensional X-ray Diffraction Microscopy Using a High-Energy Microbeam
原著論文/博士論文/査読付プロシーディングス
AIP Conference Proceedings
1741 2016 050024
[A80] 産業利用
[M10] X線回折
著者情報
 
主著者 0007519 Hayashi Yujiro Toyota Central Research and Development Laboratories, Inc.
共著者 1 0005461 Hirose Yoshiharu Toyota Central Research and Development Laboratories, Inc.
共著者 2 0004989 Seno Yoshiki Toyota Central Research and Development Laboratories, Inc.
関連課題情報
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