タイトル・発表先
32059
2016.09.20 12:14
10.1088/0022-3727/49/42/425001
Measuring Magnetisation Reversal in Micron-Sized Nd2Fe14B Single Crystals by Microbeam X-ray Magnetic Circular Dichroism
原著論文/博士論文/査読付プロシーディングス
Journal of Physics D: Applied Physics
49 42 2016 425001
[A80] 産業利用
[M25] X線磁気散乱
著者情報
 
主著者 0032902 Sugawara Akira Hitachi, Ltd.
共著者 1 0005099 Ueda Kazuhiro Hitachi, Ltd.
共著者 2 0029994 Nakayama Takeshi Hitachi, Ltd.
共著者 3 0037635 Lee Noriyuki Hitachi, Ltd.
共著者 4 0037634 Yamamoto Hiroyuki Hitachi, Ltd.
関連課題情報
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