タイトル・発表先
31986
2016.09.01 17:36
10.1016/j.microrel.2016.06.011
Degradation of a Sintered Cu Nanoparticle Layer Studied by Synchrotron Radiation Computed Laminography
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
Microelectronics Reliability
63 2016 152-158
[A80] 産業利用
[M60] X線イメージング
著者情報
 
主著者 0029103 Usui Masanori Toyota Central Research and Development Laboratories, Inc., Nagoya Institute of Technology
共著者 1 0007350 Kimura Hidehiko Toyota Central Research and Development Laboratories, Inc.
共著者 2 Satoh Toshikazu Toyota Central Research and Development Laboratories, Inc.
共著者 3 0029102 Asada Takashi Toyota Central Research and Development Laboratories, Inc.
共著者 4 0006044 Yamaguchi Satoshi Toyota Central Research and Development Laboratories, Inc.
共著者 5 Kato Masashi Nagoya Institute of Technology
関連課題情報
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