タイトル・発表先
研究成果番号
31153
登録日時
2016.04.26 16:18
DOI
10.7567/APEX.7.121303
オープンアクセスジャーナルURL
英語タイトル
Three-Dimensional Imaging and Tilt-Angle Analysis of Dislocations in 4H-SiC by Two-Photon-Excited Band-Edge Photoluminescence
日本語タイトル
発表形式
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）
誌名
Applied Physics Express
巻
7
号
12
発行年
2014
頁
121303
発表先（口頭／ポスター発表）
講演会名
開催日
開催都市
研究分野
[A80] 産業利用
研究手法
[M60] X線イメージング
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0006449
Tanuma
Ryohei
Central Research Institute of Electric Power Industry
共著者 1
0018129
Nagano
Masahiro
Central Research Institute of Electric Power Industry
共著者 2
0009160
Kamata
Isaho
Central Research Institute of Electric Power Industry
共著者 3
0013411
Tsuchida
Hidekazu
Central Research Institute of Electric Power Industry
関連課題情報
課題番号
2011B3321
ビームライン
BL08B2
実験責任者
土田 秀一
課題番号
2012A3321
ビームライン
BL08B2
実験責任者
土田 秀一
課題番号
2012B3321
ビームライン
BL08B2
実験責任者
土田 秀一
課題番号
2013A3321
ビームライン
BL08B2
実験責任者
土田 秀一
課題番号
2013B3321
ビームライン
BL08B2
実験責任者
土田 秀一
課題番号
2014A3321
ビームライン
BL08B2
実験責任者
土田 秀一
課題番号
2014B3321
ビームライン
BL08B2
実験責任者
鎌田 功穂