タイトル・発表先
29389
2015.08.19 15:06
10.1107/S1600576715009899
Polycrystal Orientation Mapping using Scanning Three-Dimensional X-ray Diffraction Microscopy
原著論文/博士論文/査読付プロシーディングス
Journal of Applied Crystallography
48 4 2015 1094-1101
[A80] 産業利用
[M10] X線回折
著者情報
 
主著者 0007519 Hayashi Yujiro Toyota Central Research and Development Laboratories, Inc.
共著者 1 0005461 Hirose Yoshiharu Toyota Central Research and Development Laboratories, Inc.
共著者 2 0004989 Seno Yoshiki Toyota Central Research and Development Laboratories, Inc.
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