タイトル・発表先
28975
2015.06.12 10:03
10.1380/jsssj.36.303
https://doi.org/10.1380/jsssj.36.303
Highly Brilliant Synchrotron Radiation Operando Spectromicroscopy to Bridge a Gap between Material Electronic Properties and Device Performances of 2D Atomic Layers
二次元原子薄膜の材料物性とデバイス特性を繋ぐ高輝度放射光オペランド顕微分光
原著論文/博士論文/査読付プロシーディングス
表面科学 (Journal of the Surface Science Society of Japan)
36 6 2015 303-308
[A30] 物質科学・材料科学
[M90] その他 オペランド顕微分光
著者情報
 
主著者 0016303 Fukidome Hirokazu Tohoku University
関連課題情報
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