タイトル・発表先
研究成果番号
28147
登録日時
2015.01.22 09:07
DOI
10.7567/JJAP.54.025503
オープンアクセスジャーナルURL
英語タイトル
Evaluation of a-type Screw Dislocations in
m
-GaN Film by Means of X-ray Diffractometry
日本語タイトル
X線回折法によるm面GaN薄膜中aタイプらせん転位の評価
発表形式
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）
誌名
Japanese Journal of Applied Physics
巻
54
号
2
発行年
2015
頁
025503
発表先（口頭／ポスター発表）
講演会名
開催日
開催都市
研究分野
[A30] 物質科学・材料科学
研究手法
[M10] X線回折
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0029236
Hiraiwa
Miori
Panasonic Corporation, University of Hyogo
共著者 1
0031417
Liu
Fei
Panasonic Corporation
共著者 2
0030324
Shibata
Satoshi
Panasonic Corporation
共著者 3
0003437
Takeda
Shingo
SPring-8/ Service Corporation
共著者 4
0001231
Tsusaka
Yoshiyuki
University of Hyogo
共著者 5
0001230
Kagoshima
Yasushi
University of Hyogo
共著者 6
0001232
Matsui
Junji
University of Hyogo
関連課題情報
課題番号
2012A3258
ビームライン
BL24XU
実験責任者
平岩 美央里
課題番号
2012B3258
ビームライン
BL24XU
実験責任者
平岩 美央里
課題番号
2012B3371
ビームライン
BL08B2
実験責任者
平岩 美央里