タイトル・発表先
26067
2014.03.31 16:56
10.1107/S1600576713031774
Development of a Simultaneous Measurement System for SAXS-WAXD and the Thickness of Coating Films during Film Formation by Solvent Evaporation
原著論文/博士論文/査読付プロシーディングス
Journal of Applied Crystallography
47 1 2014 476-481
[A30] 物質科学・材料科学
[M20] X線散乱
著者情報
 
主著者 0023565 Shimokita Keisuke Nitto Denko Corporation
共著者 1 0013648 Miyazaki Tsukasa Nitto Denko Corporation
共著者 2 0015960 Ogawa Hiroki SPring-8/JASRI
共著者 3 0006808 Yamamoto Katsuhiro Nagoya Institute of Technology
関連課題情報
2012A7216 BL03XU 宮﨑 司
2012B7266 BL03XU 宮﨑 司