タイトル・発表先
研究成果番号
2364
登録日時
2007.01.30 10:55
DOI
10.1016/S0168-583X(02)01585-9
オープンアクセスジャーナルURL
英語タイトル
Double Resonance Capacitance Spectroscopy (DORCAS): A New Experimental Technique for Assignment of X-Ray Absorption Peaks to Surface Sites of Semiconductor
日本語タイトル
発表形式
原著論文/博士論文/査読付プロシーディングス
発表先(出版)
誌名
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B
巻
199
号
発行年
2003
頁
205-210
発表先(口頭/ポスター発表)
講演会名
International Conference on Synchrotron Radiation in Materials Science (SRMS)
開催日
2002.01.21-01.24
開催都市
Shangri-La Hotel, Singapore
研究分野
研究手法
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0001178
Ishii
Masashi
JASRI, RIKEN
関連課題情報
課題番号
2002A0166
ビームライン
BL10XU
実験責任者
石井 真史
課題番号
2001B0503
ビームライン
BL10XU
実験責任者
石井 真史