タイトル・発表先
研究成果番号
2362
登録日時
2007.01.30 10:55
DOI
10.1143/JJAP.41.4415
オープンアクセスジャーナルURL
英語タイトル
X-Ray Absorption Fine Structure Measurement Using a Scanning Capacitance Microscope: Trial for Selective Observation of Trap Centers in the ∼nm Region
日本語タイトル
発表形式
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）
誌名
Japanese Journal of Applied Physics
巻
41
号
6B
発行年
2002
頁
4415-4418
発表先（口頭／ポスター発表）
講演会名
2001 International Microprocesses and Nanotechnology Conference (MNC2001)
開催日
2001.10.31-11.02
開催都市
Matsue, Japan
研究分野
研究手法
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0001178
Ishii
Masashi
JASRI
関連課題情報
課題番号
2001B0503
ビームライン
BL10XU
実験責任者
石井 真史
課題番号
2002A0166
ビームライン
BL10XU
実験責任者
石井 真史