タイトル・発表先
研究成果番号
21466
登録日時
2012.05.16 10:44
DOI
10.1143/APEX.5.061301
オープンアクセスジャーナルURL
英語タイトル
X-ray Microbeam Three-Dimensional Topography Imaging and Strain Analysis of Basal-Plane Dislocations and Threading Edge Dislocations in 4H-SiC
日本語タイトル
発表形式
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）
誌名
Applied Physics Express
巻
5
号
6
発行年
2012
頁
061301
発表先（口頭／ポスター発表）
講演会名
開催日
開催都市
研究分野
研究手法
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0006449
Tanuma
Ryohei
Central Research Institute of Electric Power Industry
共著者 1
0022672
Mori
Daisuke
Fuji Electric Co., Ltd.
共著者 2
0009160
Kamata
Isaho
Central Research Institute of Electric Power Industry
共著者 3
0013411
Tsuchida
Hidekazu
Central Research Institute of Electric Power Industry
関連課題情報
課題番号
2010B3237
ビームライン
BL24XU
実験責任者
土田 秀一
課題番号
2011A3237
ビームライン
BL24XU
実験責任者
土田 秀一
課題番号
2011B3237
ビームライン
BL24XU
実験責任者
土田 秀一
課題番号
2011A3321
ビームライン
BL08B2
実験責任者
土田 秀一
課題番号
2011B3321
ビームライン
BL08B2
実験責任者
土田 秀一