タイトル・発表先
2116
2007.01.30 10:55
10.1081/TMA-100107596
High Resolution X-Ray Fluorescence Measurements Using a Flat Analyzer Crystal and an X-Ray CCD
原著論文/博士論文/査読付プロシーディングス
Journal of Trace and Microprobe Techniques
19 4 2001 615-621
著者情報
 
主著者 0001240 Hayakawa Shinjiro Hiroshima University
共著者 1 0001230 Kagoshima Yasushi Himeji Institute of Technology
共著者 2 0001231 Tsusaka Yoshiyuki Himeji Institute of Technology
共著者 3 0001232 Matsui Junji Himeji Institute of Technology
共著者 4 0003151 Hirokawa Takeshi Hiroshima University
関連課題情報
None BL24XU SPring-8 Instrumentation & Technique