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タイトル・発表先
研究成果番号	1864
登録日時	2007.01.30 10:55
DOI	10.1016/S0921-4526(01)00927-9
オープンアクセスジャーナルURL
英語タイトル	Capacitance X-Ray Absorption Fine Structure Measurement Using Scanning Probe A New Method for Local Structure Analysis of Surface Defects
日本語タイトル
発表形式	原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）	誌名 Physica B 巻 308-310 号発行年 2001 頁 1153-1156
発表先（口頭／ポスター発表）	講演会名 The 21st International Conference on Defects in Semiconductors 開催日 2001.07.16-07.20 開催都市 Giessen, Germany
研究分野
研究手法

著者情報
	ユーザーカード番号	姓	名	所属	コレスポンディングオーサー
主著者	0001178	Ishii	Masashi	JASRI