タイトル・発表先
18567
2011.03.28 09:00
10.1063/1.3573789
Direct Observation of N-(group V) Bonding Defects in Dilute Nitride Semiconductors Using Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy
原著論文/博士論文/査読付プロシーディングス
Applied Physics Letters
98 12 2011 121915
著者情報
 
主著者 0021567 Ishikawa Fumitaro Osaka University
共著者 1 0027939 Fuyuno Satoshi Osaka University
共著者 2 0022140 Higashi Kotaro Osaka University
共著者 3 0022190 Kondow Masahiko Osaka University
共著者 4 0005913 Machida Masatake SPring-8/JASRI
共著者 5 0000627 Oji Hiroshi SPring-8/JASRI
共著者 6 0000618 Son JinYoung SPring-8/JASRI
共著者 7 Trampert A. Paul-Drude-Institute für Festköperelektronik
共著者 8 Umeno K. Toyohashi University of Technology
共著者 9 Furukawa Y. Toyohashi University of Technology
共著者 10 0003523 Wakahara Akihiro Toyohashi University of Technology
関連課題情報
2008B1926 BL46XU 石川 史太郎