タイトル・発表先
研究成果番号
182
登録日時
2007.01.30 10:55
DOI
10.2116/analsci.14.987
オープンアクセスジャーナルURL
https://www.jstage.jst.go.jp/article/analsci/14/5/14_5_987/_article
英語タイトル
Atomic-Resolution X-Ray Fluorescence Holography of Zn(0.02wt%) in a GaAs Wafer
日本語タイトル
発表形式
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）
誌名
Analytical Sciences
巻
14
号
5
発行年
1998
頁
987-990
発表先（口頭／ポスター発表）
講演会名
開催日
開催都市
研究分野
研究手法
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0001301
Hayashi
Kouichi
Kyoto University
共著者 1
0001300
Yamamoto
Tokujirou
Kyoto University
共著者 2
0001302
Kawai
Jun
Kyoto University
共著者 3
0001173
Suzuki
Motohiro
RIKEN
共著者 4
0000324
Goto
Shunji
JASRI
共著者 5
0001240
Hayakawa
Shinjiro
The University of Tokyo
共著者 6
0001274
Sakurai
Kenji
National Research Institute for Metals
共著者 7
0003344
Gohshi
Yohishi
National Institute for Environmental Study
関連課題情報
課題番号
1998A0180
ビームライン
BL39XU
実験責任者
林 好一