タイトル・発表先
研究成果番号
17261
登録日時
2010.08.09 19:19
DOI
10.1088/1742-6596/83/1/012004
オープンアクセスジャーナルURL
英語タイトル
Using Anomalous Dispersion Effect for Maximum Entropy Method Analysis of X-ray Reflectivity from Thin-Film Stacks
日本語タイトル
発表形式
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）
誌名
Journal of Physics: Conference Series
巻
83
号
発行年
2007
頁
012004
発表先（口頭／ポスター発表）
講演会名
開催日
開催都市
研究分野
[A10] 生命科学
研究手法
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0005099
Ueda
Kazuhiro
Hitachi, Ltd.
関連課題情報
課題番号
2006A5090
ビームライン
BL16XU
実験責任者
上田 和浩
課題番号
2006B5090
ビームライン
BL16XU
実験責任者
上田 和浩