タイトル・発表先
研究成果番号
17257
登録日時
2010.08.09 18:55
DOI
10.3379/jmsjmag.29.809
オープンアクセスジャーナルURL
英語タイトル
Peak Separation of X-ray Diffraction Profiles from a Cu/Ni
0.8
Fe
0.2
Thin-Film Stack Using the Anomalous Dispersion Effect
日本語タイトル
Ｘ線異常分散を利用したCu/Ni[abac]0.8Fe
0.2
積層薄膜の解説分離法の検討
発表形式
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）
誌名
日本応用磁気学会誌 (Journal of the Magnetics Society of Japan)
巻
29
号
8
発行年
2005
頁
809-813
発表先（口頭／ポスター発表）
講演会名
開催日
開催都市
研究分野
研究手法
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0005099
Ueda
Kazuhiro
Hitachi, Ltd.
共著者 1
0005097
Hirano
Tatsumi
Hitachi, Ltd.
共著者 2
0004083
Hirai
Yasuharu
Hitachi, Ltd.
共著者 3
Imagawa
Takao
Hitachi Global Storage Technologies Co., Ltd.
関連課題情報
課題番号
C99B0307
ビームライン
BL16XU
実験責任者
上田 和浩