タイトル・発表先
研究成果番号
159
登録日時
2007.01.30 10:55
DOI
10.1016/S0921-4526(99)00646-8
オープンアクセスジャーナルURL
英語タイトル
Direct Observation of Local Structure of DX Center by Capacitance X-Ray Absorption Fine Structure
日本語タイトル
発表形式
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）
誌名
Physica B
巻
273-274
号
発行年
1999
頁
774-777
発表先（口頭／ポスター発表）
講演会名
The 20th International Conference on Defects in Semiconductors/Berkeley
開催日
1999.07.26-07.30
開催都市
Berkeley, California, USA
研究分野
研究手法
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0001178
Ishii
Masashi
JASRI
共著者 1
0001441
Yoshino
Yoko
Okayama University of Science
共著者 2
0004997
Takarabe
Ken-ichi
Okayama University of Science
共著者 3
0001202
Shimomura
Osamu
JAERI
関連課題情報
課題番号
1999B0168
ビームライン
BL10XU
実験責任者
石井 真史
課題番号
1999A0117
ビームライン
BL10XU
実験責任者
財部 健一