タイトル・発表先
研究成果番号
14757
登録日時
2009.10.14 22:11
DOI
10.1016/j.tsf.2005.08.417
オープンアクセスジャーナルURL
英語タイトル
Local Strain in SiGe/Si Heterostructures Analyzed by X-ray Microdiffraction
日本語タイトル
発表形式
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）
誌名
Thin Solid Films
巻
508
号
1-2
発行年
2006
頁
128-131
発表先（口頭／ポスター発表）
講演会名
開催日
開催都市
研究分野
研究手法
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0015208
Mochizuki
Shogo
Nagoya University
共著者 1
0015182
Sakai
Akira
Nagoya University
共著者 2
Taoka
Noriyuki
Nagoya University
共著者 3
0014728
Nakatsuka
Osamu
Nagoya University
共著者 4
0003437
Takeda
Shingo
SPring-8/JASRI
共著者 5
0004124
Kimura
Shigeru
SPring-8/JASRI
共著者 6
0016773
Ogawa
Masaki
Nagoya University
共著者 7
0015932
Zaima
Shigeaki
Nagoya University
関連課題情報
課題番号
2004B0703
ビームライン
BL46XU
実験責任者
酒井 朗