タイトル・発表先
14757
2009.10.14 22:11
10.1016/j.tsf.2005.08.417
Local Strain in SiGe/Si Heterostructures Analyzed by X-ray Microdiffraction
原著論文/博士論文/査読付プロシーディングス
Thin Solid Films
508 1-2 2006 128-131
著者情報
 
主著者 0015208 Mochizuki Shogo Nagoya University
共著者 1 0015182 Sakai Akira Nagoya University
共著者 2 Taoka Noriyuki Nagoya University
共著者 3 0014728 Nakatsuka Osamu Nagoya University
共著者 4 0003437 Takeda Shingo SPring-8/JASRI
共著者 5 0004124 Kimura Shigeru SPring-8/JASRI
共著者 6 0016773 Ogawa Masaki Nagoya University
共著者 7 0015932 Zaima Shigeaki Nagoya University
関連課題情報
2004B0703 BL46XU 酒井 朗