タイトル・発表先
14458
2009.07.17 11:21
10.1143/APEX.2.085501
In situ Real-time X-ray Reciprocal Space Mapping during InGaAs/GaAs Growth for Understanding Strain Relaxation Mechanisms
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
Applied Physics Express
2 8 2009 085501
著者情報
 
主著者 0016163 Sasaki Takuo Toyota Technological Institute
共著者 1 0016208 Suzuki Hidetoshi Toyota Technological Institute
共著者 2 0024182 Sai Akihisa Toyota Technological Institute
共著者 3 0024172 Lee Jong-Han Toyota Technological Institute
共著者 4 0001168 Takahashi Masamitsu JAEA
共著者 5 0004806 Fujikawa Seiji JAEA
共著者 6 0016168 Arafune Koji University of Hyogo
共著者 7 0005744 Kamiya Itaru Toyota Technological Institute
共著者 8 0014251 Ohshita Yoshio Toyota Technological Institute
共著者 9 0023399 Yamaguchi Masafumi Toyota Technological Institute
関連課題情報
2008B3571 BL11XU 山口 真史