タイトル・発表先
13745
2009.02.26 11:41
10.1007/s10854-008-9641-1
Characterization of Strained Si Wafers by X-ray Diffraction Techniques
原著論文/博士論文/査読付プロシーディングス
Journal of Materials Science: Materials in Electronics
19 Supplement 1 2008 S189-S193
International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors
2007.09.09-09.13 Berlin, Germany
著者情報
 
主著者 0001281 Shimura Takayoshi Osaka University
共著者 1 0016745 Kawamura Kouta Osaka University
共著者 2 0018764 Asakawa Masahiro Osaka University
共著者 3 0020707 Watanabe Heiji Osaka University
共著者 4 Yasutake Kiyoshi Osaka University
共著者 5 0015928 Ogura Atsushi Meiji University
共著者 6 0006085 Fukuda Kazunori SPring-8/JASRI
共著者 7 0003369 Sakata Osami SPring-8/JASRI
共著者 8 0004124 Kimura Shigeru SPring-8/JASRI
共著者 9 0020260 Edo Hiroki Toyama University
共著者 10 0001768 Iida Satoshi Toyama University
共著者 11 0005066 Umeno Masataka Fukui University of Technology
関連課題情報
2006B1759 BL13XU 福田 一徳
2007A2029 BL13XU 志村 考功
2007A1736 BL20B2 志村 考功
2007B1557 BL20B2 志村 考功